依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)IEC 61000-4-2/GBT17626.2的定義，靜電放電就是具有不同靜電電位的物體相互靠近或直接接觸引起的電荷轉(zhuǎn)移。

當(dāng)人體穿著絕緣材料的織物并且對地絕緣時，在地面上運(yùn)動時可能積累一定數(shù)量的電荷。當(dāng)人體接觸到與地相連的設(shè)備時就會產(chǎn)生靜電放電。

靜電放電試驗主要檢查人或物體在接觸設(shè)備時所引起的放電（直接放電），以及人或物體對設(shè)備鄰近物體的放電（間接放電）時對設(shè)備工作造成的影響。靜電放電時可以在0.5～20ns的時間內(nèi)產(chǎn)生1～50A的放電電流。雖然電流很大但因持續(xù)時間很短，故能量很小。所以一般靜電放電不會對人產(chǎn)生傷害，但對集成電路芯片等電子產(chǎn)品可能產(chǎn)生破壞性的危害。

1）試驗環(huán)境條件

i.氣候環(huán)境: 環(huán)境溫度15°C ~30 °C

                  相對濕度30%~60%

                  大氣壓力86kPa ~ 106kPa

ii.電磁環(huán)境: 不影響試驗結(jié)果的環(huán)境

2）試驗布置

雖然靜電放電試驗非常容易,但它是所有EMC測試項目中重復(fù)性的測試項目之一。

在做靜電放電測試時，經(jīng)常會碰到這種情況：同一個被測品在A實驗室通過了，但是在B實驗室卻通不過，導(dǎo)致此種情況的原因，可以總結(jié)分析出以下幾種可能：

①  由于測試設(shè)備的不同，導(dǎo)致測試結(jié)果的不同

②  由于測試環(huán)境的不同，導(dǎo)致測試結(jié)果的不同

③  由于測試人員的不同，導(dǎo)致測試結(jié)果的不同

針對以上的原因，具體分析如下：

1、由于測試設(shè)備的不同，導(dǎo)致測試結(jié)果的不同

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)IEC 61000-4-2：2008，靜電放電模擬器的要求：

靜電放電電流波形的規(guī)定，主要的四個關(guān)鍵指標(biāo)為：峰值電流Ip；上升時間Tr；30ns時的電流值I30；60ns時的電流值I60。從上表中可以看出這四個指標(biāo)的容許偏差都較大，峰值電流Ip為±15%，上升時間Tr為±25%，30ns時的電流值I30為±30%，60ns時的電流值I60為±30% 。

以下是4個符合標(biāo)準(zhǔn)的靜電放電模擬器的輸出波形對比，分別屬于不同的公司。

      從波形可以看出，區(qū)別還是很大的。

2、由于測試環(huán)境的不同，導(dǎo)致測試結(jié)果的不同

對靜電測試重復(fù)性影響最大的環(huán)境因素就是濕度，空氣濕度的變化對放電參數(shù)的影響，見下圖：

3、由于測試人員的不同，導(dǎo)致測試結(jié)果的不同

不同的測試人員在進(jìn)行靜電放電測試時，肯定也是會有一些差異的，但是測試依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)都是一樣的(IEC 61000-4-2)，標(biāo)準(zhǔn)中對測試方法都進(jìn)行的詳細(xì)的說明，所以在不同的測試人員身上產(chǎn)生的差異很有限，在這不做主要原因分析。

推薦型號：

靜電放電模擬器

SESD 216（電壓范圍：200V~16.5kV）

SESD 230（電壓范圍：500V~30kV）

SESD 30000（電壓范圍：1kV~30kV）

ESD - Test System 30 kV