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LCR測(cè)試儀

阻抗分析儀 LCR電橋磁性元件分析儀電容測(cè)試儀

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AT2617安柏電容測(cè)試儀LCR

更新時(shí)間：2023-10-08

型號(hào)：AT2617

人氣：681

安柏電容測(cè)試儀LCRAT261X系列是電容測(cè)試儀，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型臺(tái)式儀器。儀器可以選擇200kHz（AT2616）的測(cè)試頻率，并可選擇0.1V，0.3V，0.5V和1.0Vrms的測(cè)試信號(hào)電平。
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AT826安柏手持LCR數(shù)字電橋

更新時(shí)間：2023-10-08

型號(hào)：AT826

人氣：639

安柏手持LCR數(shù)字電橋AT826手持LCR 數(shù)字電橋采用高性能32位ARM微處理器控制。超低功耗設(shè)計(jì)和高密度SMD裝配工藝，2.8英寸真彩16M色TFT液晶顯示屏，主副參數(shù)同時(shí)顯示，擺脫了工作臺(tái)的限制,為您移動(dòng) LCR 測(cè)量提供方便。并具有鍵盤(pán),觸摸屏雙控制。采用鋰電池供電，USB通訊。中英文操作界面可快速切換。
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AT825安柏手持LCR數(shù)字電橋

更新時(shí)間：2023-10-08

型號(hào)：AT825

人氣：556

安柏手持LCR數(shù)字電橋AT825手持LCR 數(shù)字電橋100Hz~10kHz的測(cè)量頻率，恒定100Ω源內(nèi)阻，0.6Vrms測(cè)量電平，0.2%的測(cè)量精度，兼?zhèn)淞耸殖直淼谋銛y型和臺(tái)式儀器的*性能！
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AT817D安柏LCR數(shù)字電橋

更新時(shí)間：2023-10-08

型號(hào)：AT817D

人氣：600

安柏LCR數(shù)字電橋AT817D采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。精簡(jiǎn)了AT817的部分功能，內(nèi)建50Hz~100kHz 10點(diǎn)測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，相對(duì)于AT817更為優(yōu)惠的價(jià)格，使其能滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
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AT810D安柏LCR數(shù)字電橋

更新時(shí)間：2023-10-08

型號(hào)：AT810D

人氣：693

安柏LCR數(shù)字電橋AT810D采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810D僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏儀器的技術(shù)，使其性能亦無(wú)可挑剔。內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.3V和1V測(cè)試電平，使其能滿足一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。分選機(jī)專用版本
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AT810A安柏LCR數(shù)字電橋

更新時(shí)間：2023-10-08

型號(hào)：AT810A

人氣：678

安柏LCR數(shù)字電橋AT810A 采用高性能處理器，使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。依賴于安柏的技術(shù)，使其性能無(wú)可挑剔。內(nèi)建10Hz~20kHz 任意測(cè)試頻率設(shè)置，分辨率0.001Hz，并且提供任意電平設(shè)置，分辨率0.01V，使其能滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
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AT810安柏LCR數(shù)字電橋

更新時(shí)間：2023-10-08

型號(hào)：AT810

人氣：540

安柏LCR數(shù)字電橋AT810 采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏科技的技術(shù)，使其性能亦無(wú)可挑剔。
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AT3818安柏LCR數(shù)字電橋

更新時(shí)間：2023-10-08

型號(hào)：AT3818

人氣：546

安柏LCR數(shù)字電橋AT3818 采用10Hz～300kHz連續(xù)頻點(diǎn)，分辨率為0.001Hz。測(cè)試信號(hào)電平0.01Vrms～2.00Vrms，100.0uA- 20.00mA，純直流信號(hào)源的DCR測(cè)量以及內(nèi)部直流偏壓±2.5V，同時(shí)可選外部偏置。
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